X射線(xiàn)衍射是利用X射線(xiàn)在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得衍射后X射線(xiàn)信號(hào)特征，經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來(lái)看晶體內(nèi)部是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷等。

　　

　　X射線(xiàn)衍射作為一電磁波投射到晶體中時(shí)，會(huì)受到晶體中原子的散射，而散射波就像從原子中心發(fā)出，每個(gè)原子中心發(fā)出的散射波類(lèi)似于源球面波。由于原子在晶體中是周期排列的，這些散射球波之間存在固定的相位關(guān)系，會(huì)導(dǎo)致在某些散射方向的球面波相互加強(qiáng)，而在某些方向上相互抵消，從而出現(xiàn)衍射現(xiàn)象。

　　

　　X射線(xiàn)衍射儀基本構(gòu)成：

　　

　　（1）高穩(wěn)定度X射線(xiàn)源提供測(cè)量所需的X射線(xiàn)，改變X射線(xiàn)管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線(xiàn)的波長(zhǎng)，調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線(xiàn)源的強(qiáng)度。

　　

　?。?）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。

　　

　?。?）射線(xiàn)檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向，通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。

　　

　?。?）衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代X射線(xiàn)衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。

　　

　　X射線(xiàn)衍射儀可為客戶(hù)解決的問(wèn)題：

　　

　?。?）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。

　　

　　（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。

　　

　　（3）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。

　　

　?。?）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。

　　

　?。?）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線(xiàn)衍射線(xiàn)線(xiàn)寬法可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。